Introduzione

Nuovo metodo di imaging per microscopia ottica, in grado di acquisire immagini con elevata risoluzione temporale e/o di intensità, completamente compatibile con i microscopi a scansione laser confocali esistenti. Nuovo metodo di imaging per microscopia ottica, in grado di acquisire immagini con elevata risoluzione temporale e / o di intensità. Il metodo si basa sull’elaborazione delle immagini registrate da un microscopio a scansione di immagini (ISM) in cui il rivelatore a matrice viene implementato utilizzando un nuovo array di SPAD (Single-Photon Avalanche Diode).

Caratteristiche Tecniche

In dettaglio, l’invenzione riguarda: 1) il metodo per ottenere un’immagine ad rae / o di intensità da un sistema ISM senza richiedere un intenso lavoro da parte dell’utente del microscopio; 2) l’architettura del relativo sistema di imaging al microscopio. Rispetto ai metodi di imaging attualmente sul mercato, l’invenzione consente di stimare separatamente le PSF e le matrici di spostamento. Successivamente una stima della funzione del campione rende il metodo di ricostruzione più robusto. La stima delle matrici di spostamento, utilizzando un approccio di correlazione di fase, permette risultati sub-pixel tramite un calcolo veloce. Inoltre, fornisce vantaggi tecnici rispetto alle tecnologie attuali, consentendo l’imaging delle impronte digitali (e di conseguenza un facile allineamento del sistema), nonché la compatibilità con le misure time-resolved.

Possibili Applicazioni

• Image-Scanning Microscopy ad alta risoluzione;
• Fluorescence Lifetime Imaging ad alta risoluzione;
• STED e microscopia a due fotoni;
• L’uso dell’invenzione per l’imaging porta a un miglioramento sia della risoluzione che del rapporto segnale-rumore, quindi l’integrazione con la strumentazione porta numerosi vantaggi.

Vantaggi

• Acquisizione di immagini ad alta risoluzione;
• Alto rapporto segnale-rumore;
• Compatibilità con microscopi commerciali;
• Acquisizione di immagini con risoluzione temporale;
• Basso carico computazionale.