Introduzione

L’invenzione si inserisce nel settore tecnico degli apparati ottici per la caratterizzazione e diagnostica di circuiti fotonici integrati, cioè di tutti quei circuiti in grado di produrre, propagare e manipolare segnali ottici che possono essere impiegati per molteplici applicazioni, dalla sensoristica alle telecomunicazioni.

Caratteristiche Tecniche

I circuiti fotonici integrati presentano numerosi vantaggi rispetto agli attuali circuiti elettronici in termini di efficienza e velocità di elaborazione. Tuttavia è necessario sviluppare nuove tecniche di indagine per verificarne il corretto funzionamento ed eseguire procedure diagnostiche atte a verificarne l’integrità e l’accuratezza dei processi di fabbricazione. Le tecniche note di caratterizzazione e diagnosi presentano ad oggi varie limitazioni, essendo invasive o comunque perturbative del circuito da esaminare, o specifiche rispetto a determinati materiali, o ancora caratterizzate da lunghi tempi di scansione sequenziale dei circuiti o da insufficiente risoluzione spaziale o temporale, e dunque incompatibili con la diagnostica di circuiti integrati su chip. La presente invenzione supera tali limitazioni introducendo un metodo e un apparato di caratterizzazione non perturbativa ad ampio campo visivo e alta risoluzione temporale, adatta a circuiti fotonici integrati indipendentemente dalle loro dimensioni e materiale di fabbricazione.

Possibili Applicazioni

• Analisi ad alta risoluzione spaziale e temporale di circuiti fotonici;
• Diagnostica non perturbativa di circuiti fotonici integrati in situ;
• Misura della velocità di propagazione locale di segnali ottici in circuiti fotonici integrati.

Vantaggi

• Compatibilità con diversi materiali e substrati impiegati per la fabbricazione di circuiti fotonici;
• Elevata risoluzione spaziale e temporale per la rivelazione dei segnali ottici;
• Compatibilità con circuiti integrati;
• Largo campo visivo per l’analisi di ampie regioni, con conseguente riduzione dei tempi di analisi.