Introduzione

Un metodo efficiente per analizzare sistematicamente le funzioni cerebrali richiede il monitoraggio simultaneo dell’attività elettrica di molte cellule in un dato volume cerebrale. Il presente sistema di scansione a microscopia STED (Stimulated Emission Depletion) consente, rispettivamente, lo studio di fenomeni ad alta velocità e/o la visualizzazione di oggetti nano-strutturati, superando i limiti di diffrazione data dalla microscopia Multi-Fotonica (MP). Inoltre, è in grado di dirigere in modo rapidamente variabile il focus dei di due fasci di luce su una pluralità di posizioni predefinite all’interno di un dato volume.

Caratteristiche Tecniche

Sono state sviluppate diverse tecnologie per effettuare rapide misurazioni tridimensionali sul tessuto cerebrale, una di queste sono i deflettori ottici acousto-ottici (AOD), utilizzati per eseguire l’imaging ad accesso casuale e variare rapidamente la messa a fuoco di un raggio laser senza movimenti meccanici. Attualmente, questi e altri oggetti comprendono il sistema di scansione ottica a microscopia STED della presente invenzione, composto da: 1.) un sistema ottico per guidare un primo e un secondo fascio di luce, 2.) un mezzo di deviazione per deviare detti primi e secondi fasci di luce in direzionale variabile, in cui detti mezzi di deflessione comprendono almeno un AOD. Secondo l’invenzione, i due fasci di luce entrano nel sistema di scansione ad accesso casuale da lati opposti e si propagano attraverso ogni elemento AOD. A seconda del numero di elementi AOD è anche possibile fornire un sistema in grado di eseguire la scansione in più direzioni: con un singolo AOD è possibile eseguire una scansione unidimensionale, mentre con 4 AOD è possibile eseguire una scansione tridimensionale.

Possibili Applicazioni

• Campo della microscopia di fluorescenza e della rappresentazione funzionale del tessuto cerebrale
• Nanolitografia, nanofabbricazione
• Ricerca e stoccaggio di informazioni ottiche e altri campi che coinvolgono fenomeni ad alta velocità

Vantaggi

• Superamento della limitazione di diffrazione dei microscopi MP
• Maggiore risoluzione spaziale
• Affidabile, economico e facile da implementare