Introduzione

L’invenzione proposta si riferisce ad un metodo per guidare microscopi a scansione di sonda (SPM) a frequenze di scansione elevate, anche al di sopra delle loro frequenze di risonanza, pur mantenendo una risoluzione spaziale paragonabile alle modalità di scansione convenzionali (lente). Il nostro metodo seleziona le finestre di frequenza di scansione rapida all’interno delle quali è possibile eseguire le misure tramite un semplice protocollo in grado di caratterizzare le risonanze dell’intero microscopio.

Caratteristiche Tecniche

La risoluzione temporale degli SPM (Scanning Probe Microscope) commerciali  rappresenta una delle loro maggiori limitazioni poiché i tempi tipici di acquisizione dell’immagine sono dell’ordine di secondi o più; di conseguenza si perdono totalmente, o parzialmente, i dettagli fondamentali dei processi dinamici superficiali che avvengono su scala atomica. La velocità di scansione è limitata sia dall’elettronica di rilevazione del segnale che dalle risonanze meccaniche dello scanner. Non tutte le risonanze meccaniche influenzano la risoluzione dell’immagine STM, tuttavia non vi è ancora un metodo per determinare inequivocabilmente le risonanze dannose. Il nostro metodo misura la risposta del parametro di read-out del microscopio spazzando le frequenze di eccitazione del movimento locale della sonda: le regioni dello spettro in cui la risposta sembra non dipendere dalla frequenza di eccitazione applicata (plateau), definiscono le frequenze di lavoro adatte per ottenere le condizioni ottimali di imaging.

Possibili Applicazioni

• Microscopia a scansione veloce;
• Analisi e studi delle superfici;
• Catalisi;
• Elettronica organica;
• Elettronica molecolare;
• Elettrochimica.

Vantaggi

• Scansione rapida per SPM / STM convenzionali;
• Upgrade del microscopio a basso costo;
• Alta risoluzione;
• Elevata stabilità meccanica;
• Affidabilità.