Introduzione

La presente invenzione riguarda un metodo e un apparato per il tracciamento ottico di oggetti nanometrici, in particolare per la localizzazione tridimensionale di oggetti emettitori. La presente tecnica di microscopia rende possibile privilegiare un grande ampio intervallo di tracciamento assiale di un singolo emettitore.

Caratteristiche Tecniche

Il presente metodo è basato sulla divisione di un braccio di rilevamento di un microscopio in 2 percorsi diversi in combinazione con una lente varifocale ad alta velocità. I 2 percorsi passano attraverso l’obiettivo varifocale in diverse posizioni, una perfettamente allineata (AP) e una leggermente decentrata rispetto all’asse ottico dell’obiettivo (DP), e le immagini corrispondenti sono raccolte utilizzando 2 diverse telecamere o 2 regioni all’interno di una singola telecamera . Dal percorso AP, si ottiene un’immagine DOF estesa che viene utilizzata per determinare la posizione x-y della specie. Confrontando l’AP con le immagini DP corrispondenti alla stessa specie, si può anche effettuare una quantificazione della posizione z delle diverse specie.

Possibili Applicazioni

• Neuroscienze: studio delle dinamiche della rete neuronale a condizioni fisiologiche;
• Virologia: analisi del traffico di virus;
• Biologia molecolare: caratterizzazione di qualsiasi processo di diffusione intracellulare in vitro;
• Analisi del flusso nella meccanica dei fluidi.

Vantaggi

• Monitoraggio su grandi volumi;
• Precisione sintonizzabile, fino alla scala nanometrica;
• Alta risoluzione temporale;
• Facilità di implementazione nei microscopi commerciali.